Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2118U001862, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи A New Electro-Thermal Modeling of Low Voltage Power MOSFET with Junction Temperature Dependent Foster (RC) Thermal Network Автор Дата публікації 01-01-2018 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/70913 Видання Sumy State University Опис Thermal loading of MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor- Field-Effect-Transistor) model is a very important factor for the reliability of power electronics systems. Thus, the junction temperature must be accurately estimated. This paper presents a new electro-thermal (ET) model for low voltage Power MOSFET rated at (30 V/13 A) by PSpice simulator to estimate junction temperature (Tj) and power loss. The (ET) model is composed of electrical network model and (RC) thermal network model. The parameters of the (RC) thermal network model are extracted from datasheet using genetic algorithms (GA) method for computation of the transient thermal impedance (Zth(j – c)). The propose model reflects superior performance in terms of flexibility and accuracy. The results obtained indicate a good matching between proposed model and manufacturer’s data. Додано в НРАТ 2025-03-24 Закрити