Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2120U001690, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Taking into Account the Corrections in the Study of the Properties of Substances by the X-ray Method Автор Дата публікації 01-01-2020 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/81205 Видання Sumy State University Опис Методом високотемпературного рентгенографування сплавів систем Cu-Ni, Fe-Ni, Au-Ag, KCl-KBr на камері оберненого знімання проведено дослідження ступеню впливу поправок на температурне дифузне розсіювання рентгенівських променів та розсіювання дефектами кристалічної гратки. Проведено дослідження концентраційної і температурної залежностей середніх квадратів значень статичних та динамічних зміщень гіпотетичних атомів від їх положень рівноваги у кристалічній гратці. Описана методика розділення значень повних середньоквадратичних динамічних і статичних зміщень атомів. В статті обгрунтований вибір об’єктів і методу дослідження. Наведені математичні співвідношення з визначення температурної залежності рентгенівської характеристичної температури, повного середньоквадратичного динамічного та статичного зміщень гіпотетичних атомів від положення їх рівноваги в гратці. Наведені формули для знаходження значень поправки на температурне дифузне розсіювання рентгенівських променів, формули обчислення значень статичних зміщень через параметр кристалічної гратки твердого розчину та розчинника, а також через значення пружних постійних досліджуваних сплавів. Частина результатів дослідження проілюстрована графічно, а інша – аналітично. Доведена перевага методу Чіпмена-Паскіна з визначення рентгенівської характеристичної температури та перевага оцінки значень статичних зміщень за температурними змінами параметра гратки твердого розчину і розчинника. The degree of influence of corrections was studied by the method of high-temperature radiography of alloys of Cu-Ni, Fe-Ni, Au-Ag, KCl-KBr systems on the reverse imaging chamber on the diffuse temperature scattering of X-rays and scattering by defects of the crystal lattice. The research of the concentration and temperature dependences of the mean squares of the values of static and dynamic displacements of hypothetical atoms on their equilibrium positions in the crystal lattice was carried out. The method of separating the values of root-mean-square (RMS) dynamic and static displacements of atoms was described. The article is based on the choice of objects and research method. Mathematical relations for determining the temperature dependence of the X-ray characteristic temperature and complete RMS dynamic and static displacements of hypothetical atoms from the position of their equilibrium in the lattice are presented. The formulas for finding the values of the correction for temperature diffuse scattering of X-rays and the formula for calculating the values of static displacements are given through the parameter of the crystal lattice of the solid solution and the solvent, as well as through the values of the elastic constants of the investigated alloys. Some of the results of the investigation are illustrated graphically, and others – analytically. The advantage of the Chipman-Paskin method for determining the X-ray characteristic temperature and the advantage of evaluating the values of static displacements by temperature changes of the lattice parameter of the solid solution and the solvent are proved. Додано в НРАТ 2025-03-24 Закрити