Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 2120U008739, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Бакалаврська робота Назва роботи Комп’ютерно-інтегрована система відтворення зразкових відносних деформацій Автор Гладишко Андрій ПавловичHladyshko Andrii Pavlovych Дата публікації 01-01-2020 Постачальник інформації Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» Першоджерело https://ela.kpi.ua/handle/123456789/35089 Видання Київ Опис Дипломний проєкт містить:73 с., 6 табл., 23 рис., 3 дод. та 20 джер. Сьогодні прилади та системи вимірювання деформації широко використовуються у багатьох країнах у різних сферах виробництва. Вони є одним із перспективних напрямків розвитку наукового та технічного процесу багатьох розвинутих держав. Стан техніки вимірювання деформацій характеризується серійним виробництвом робочих засобів вимірювань (ЗВ), серед яких широке розповсюдження мають тензометри, датчики деформацій, тензорезистори, вторинна тензометрична апаратура - вимірники деформацій, тензометричні вимірювальні системи. Прилади для вимірювання деформацій набули великого розповсюдження як ефективний засіб контролю міцності на стадіях проектування, доведення і експлуатації машин, апаратів і споруд, при рішенні задач автоматизації процесів і технічної діагностики. Тому вдосконалення системи метрологічного забезпечення цих вимірювань має важливе народногосподарське значення. Найширше розповсюдження для вимірювання деформацій в даний час знайшли тензорезистори. Визначення метрологічних характеристик тензорезисторів здійснюється при випуску їх з виробництва і в процесі експлуатації, після закінчення гарантійного терміну зберігання, при використовуванні нерегламентованих типів зв'язуючого, перед проведенням особливо відповідальних вимірювань і в інших випадках. Наявність великого числа виготівників і споживачів тензорезисторів, що мають потребу у визначенні їх метрологічних характеристик, з одного боку, і відсутність централізованого виробництва засобів перевірки тензорезисторів з другого боку, привели до створення і використовування різноманіття засобів визначення метрологічних характеристик тензорезисторів. Thesis project contains: 73 pages, 6 tables, 23 figures, 3 appendices. and 20 links Today, deformation measuring instruments and systems are widely used in many countries in various fields of production. They are one of the promising areas of scientific and technical development of many developed countries. The state of the art of measuring deformations is characterized by serial production of working measuring instruments (ME), among which strain gauges, strain sensors, strain gauges, secondary strain gauge equipment - strain gauges, strain gauges are widespread. Devices for measuring deformations have become widespread as an effective means of controlling the strength at the stages of design, finishing and operation of machines, devices and structures, in solving problems of process automation and technical diagnostics. Therefore, the improvement of the system of metrological support of these measurements is of great economic importance. Tensor resistors are now the most widely used for measuring deformations. Determination of metrological characteristics of strain gauges is carried out at their release from production and in the course of operation, after the expiration of a warranty period of storage, at use of unregulated types of binder, before carrying out especially responsible measurements and in other cases. The presence of a large number of manufacturers and consumers of strain gauges, which need to determine their metrological characteristics, on the one hand, and the lack of centralized production of tensor resistors on the other hand, led to the creation and use of a variety of metrological characteristics of strain gauges. Додано в НРАТ 2025-11-05 Закрити
Матеріали
Бакалаврська робота
Гладишко Андрій Павлович. Комп’ютерно-інтегрована система відтворення зразкових відносних деформацій : публікація 2020-01-01; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», 2120U008739
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-20