Реєстраційний номер
2122U007146, Матеріали видань та локальних репозитаріїв
Категорія
Стаття
Назва роботи
Determination of Optimal Modes of Electron-Beam Micro-Treatment of Surfaces in Optic Elements.
Визначення оптимальних режимів електронно-променевої мікрообробки поверхонь оптичних елементів.
Автор
Yatsenko Irina
Antonyuk Victor
Vashchenko Vyacheslav
Gordienko Valentyn
Kolinko Sergiy
Butenko Tatiana
Яценко Ірина В'ячеславівна
Антонюк Віктор Степанович
Ващенко Вячеслав Андрійович
Гордієнко Валентин Іванович
Колінько Сергій Олександрович
Бутенко Тетяна Іванівна
Yatsenko Irina
Antonyuk Victor
Vashchenko Vyacheslav
Gordienko Valentyn
Kolinko Sergiy
Butenko Tatiana
Yatsenko Iryna V'yacheslavivna
Antoniuk Viktor Stepanovych
Vashchenko Vyacheslav Andriiovych
Hordiienko Valentyn Ivanovych
Kolinko Serhii Oleksandrovych
Butenko Tetyana Ivanivna
Дата публікації
01-01-2022
Постачальник інформації
Черкаський державний технологічний університет
Першоджерело
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/4217
Видання
Journal of Nano- and Electronic Physics.
Опис
As practice has shown, the most erratic, environmentally friendly, and easily controllable way of optical element treatment is the electron-beam method. However, the widespread use of electron beam technology in optoelectronic instrumentation is hampered by the lack of methods for determining optimal
modes of electron beam microprocessing of optical elements, representing a set of controlled parameters of
the electron beam (current of the beam Ib 50…300 mА, accelerating voltage Vу 4…8 kV, distances to the
treated surface l 610 – 2… 810 – 2 m, beam movement speed V 510 – 2…510 – 3 m/s, heat exposure time
t 0.3…1.0 s), excess of which leads to a number of undesirable phenomena, that harm the quality of the
surfaces to be treated.There have been developed the mathematical models of the process of heating elements from optical glass and ceramics of various geometric shapes and sizes (thin film elements, thin
plates of high size) by a moving belt electron beam, which allow to calculate the influence of its parameters
on temperature fields in treated elements. It was established that the increase in the Ib and Vу parameters
in the specified ranges leads to an increase in the maximum surface temperature of optical elements by
more than 2 times, and the decrease in the parameters l and V by less than 1.5 times. Optimal values of
the parameters of the electron beam are determined, the excess of which leads to the appearance of cracks
and splits in the surface layers of elements, violation of their geometric shape and deterioration of the metrological characteristics of the devices up to their failure.
Як показала практика, найбільш зручним, екологічно чистим та легкокерованим способом оброб-
ки оптичних елементів є електронно-променевий метод. Однак широке використання електронно-
променевої технології у оптико-електронному приладобудуванні стримується відсутністю методів ви-
значення оптимальних режимів електронно-променевої мікрообробки оптичних елементів, що явля-
ють собою сукупність керованих параметрів електронного променю (струм електронного потоку
Ib 50…300 мА, прискорююча напруга Vу 4…8 кВ, відстань до оброблюваної поверхні l 610 – 2- 810 – 2 м, швидкість переміщення променю V 510 – 2-510 – 3 м/с, час теплового впливу t 0,3…1,0 с),
перевищення яких призводить до цілого ряду небажаних явищ, які погіршують якість оброблюваних
поверхонь. Розроблено математичні моделі процесу нагріву елементів з оптичного скла та кераміки
різної геометричної форми та розмірів (тонкоплівкові елементи, тонкі пластини великих розмірів) ру-
хомим стрічковим електронним променем, що дозволяють розрахувати вплив його параметрів на тем-
пературні поля у оброблюваних елементах. Встановлено, що збільшення параметрів Iп та Vу у вказа-
них діапазонах призводить до зростання максимальної температури поверхні оптичних елементів бі-
льше, ніж у 2 рази, а зменшення параметрів l та V – менше, ніж у 1,5 рази. Визначено оптимальні
значення параметрів електронного променю, перевищення яких призводить до появи тріщин та від-
колів у поверхневих шарах елементів, порушення їх геометричної форми та погіршення метрологіч-
них характеристик приладів аж до їх відказів.
Додано/оновлено в НРАТ
2026-04-27
