Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 2123U002905, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Бакалаврська робота Назва роботи Алгоритм кількісного аналізу характеристик ехогенності та жорсткості ультразвукових зображень експериментальної пухлини Автор Шаблій Олександр Сергійович Дата публікації 01-01-2023 Постачальник інформації Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» Першоджерело https://ela.kpi.ua/handle/123456789/60957 Видання Київ Опис Актуальність: Окрім, візуальної якісної оцінки ультразвукових (УЗ) зображень тканин, існує потреба в кількісній оцінці. Алгоритм кількісного аналізу характеристик ехогенності та жорсткості УЗ зображень пухлини забезпечує об'єктивну, неінвазивну оцінку зміни структури тканин у відповідь на лікування. Метою дипломної роботи єскладання алгоритму кількісного аналізу змін ехогенності та жорсткості УЗ зображень після впливу протипухлинного нанокомплексу та електромагнітного опромінення. Завдання: ознайомитись з сучасною літературою на тему кількісного аналізу характеристик пухлин на УЗ зображеннях, фізико-технічною базою УЗ діагностичних систем. Підібрати програмні продукти, методи сегментації зображень та текстурних параметрів пухлини. Розрахувати середню яскравість, жорсткість, показник гетерогенності злоякісної пухлини на УЗ зображеннях. Провести аналіз змін розрахованих параметрів. Основні результати: сформовано уявлення про застосування методів текстурного аналізу кількісної характеристики пухлини на УЗ зображеннях, опрацьовані принципи роботи УЗ діагностичних систем, підібрано програмні продукти, методи сегментації зображень та текстурних параметрів. Розраховано характеристики пухлини, складено алгоритм кількісного аналізу середньої яскравості, жорсткості, показника гетерогенності. Додано в НРАТ 2025-01-29 Закрити
Матеріали
Бакалаврська робота
Шаблій Олександр Сергійович. Алгоритм кількісного аналізу характеристик ехогенності та жорсткості ультразвукових зображень експериментальної пухлини : публікація 2023-01-01; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», 2123U002905
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-18