Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2123U007321, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Бакалаврська робота Назва роботи Застосування методів електронної мікроскопії для дослідження структури функціональних плівкових матеріалів Автор Дата публікації 01-01-2023 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/92058 Видання Сумський державний університет Опис Актуальність теми роботи. В сучасному науковому світі дослідження структури функціональних плівкових матеріалів мають велике значення для розробки нових технологій і вдосконалення існуючих систем. Застосування методів електронної мікроскопії у таких дослідженнях стає невід'ємною складовою частиною сучасної науково-дослідної практики. Методи електронної мікроскопії забезпечують можливість отримання детальної інформації про морфологію, структуру та властивості плівкових матеріалів на нанометровому рівні. Актуальність даної проблеми полягає в тому, що функціональні плівкові матеріали використовуються в різних галузях, таких як електроніка, оптика, енергетика. Для досягнення кращих властивостей і покращення функціональності цих матеріалів необхідно розуміти їхню структуру на мікро- та нанометровому рівнях. Таким чином, розробка та застосування методів електронної мікроскопії для дослідження структури функціональних плівкових матеріалів є вкрай важливим кроком у напрямі розширення наших знань про ці матеріали. Метою кваліфікаційної роботи є вивчення методик досліджень структури, елементного та фазового складу тонкоплівкових матеріалів електроніки методами растрової і просвічуючої електронної мікроскопії, використанні прикладних програм для електронної мікроскопії та аналізі результатів експериментальних досліджень. Методи: під час виконання роботи були розглянуті та проаналізовані результати досліджень для плівкових систем, отриманих методом термічного випаровування на приладі ВУП-5М. У роботі проаналізовані результати, отримані з використанням растрового електронного мікроскопу Jeol 7001 TTLS (з приставкою фірми Oxford Instruments для енергетичної дисперсійної спектроскопії) та просвічуючого електронного мікроскопу ПЕМ-125К. Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити