Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2124U003646, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Бакалаврська робота Назва роботи Технологія мікроскопії із сфокусованим йонним пучком для прототипів наноприладів Автор Дата публікації 01-01-2024 Постачальник інформації Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» Першоджерело https://ela.kpi.ua/handle/123456789/67519 Видання Київ Опис Роботу викладено на 63 сторінках, вона містить 4 розділи, 25 ілюстрацій, 3 таблиці та 17 джерел в списку використаної літератури. Об’єктом дослідження став метод створення прототипів наноприладів із застосуванням технології мікроскопії із сфокусованим іонним пучком. Предмет роботи – прототипування та створення наноприладів. Метою данної роботи стали методи створення та дослідження прототипів найпростіших наноструктур та наноприладів. Перший інформаційно-аналітичний розділ пояснює різні методи створення та дослідження наноструктур та наноприладів. У другому розділі викладено принцип роботи та структуру мікроскопу із сфокусованим іонним пучком. У третьому показані вже існуючі прототипи наноприладів та різні матеріали для їх створення. У четвертому переваги та недоліки методу мікроскопії із сфокусованим іонним пучком. Додано в НРАТ 2025-03-31 Закрити