Реєстраційний номер
2124U015166, Матеріали видань та локальних репозитаріїв
Категорія
Стаття
Назва роботи
Особливості виявлення еталонного зображення на напівтоновому зображенні за методом бінарних зрізів
Features of determining the location of the reference image on the current half-tone using the method of binary slices
Автор
Скорюкова Я. Г.
Мартинюк Т. Б.
Марков С. М.
Кокушкін В. М.
Skoriukova Ya. G.
Martyniuk T. B.
Markov S. M.
Kokushkin V. M.
Skoriukova Ya. G.
Martyniuk T. B.
Markov S. M.
Kokushkin V. M.
Дата публікації
01-01-2024
Постачальник інформації
Вінницький національний технічний університет
Першоджерело
https://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/50818
Видання
Вінницький національний технічний університет
Опис
Необхідність створення нових ефективних підходів та методів для роботи зорових систем мобільних роботів для задач ідентифікації та виявлення об’єктів обумовлено вимогами сьогодення. Метою роботи є аналіз особливостей оброблення напівтонового зображення за методом бінарних зрізів для виявлення еталонного зображення на полі поточного зображення. В якості методів дослідження було використано метод аналізу, абстрагування та аналогії. У статті запропонований підхід до виявлення еталонного напівтонового зображення на поточному напівтоновому зображенні. Для цього розгляну-то особливості застосування методу бінарних зрізів для передоброблення напівтонового зображення у поєднанні з методами, що дозволяють виявити еталонне бінарне зображення на поточному бінарному зображенні. Підхід, що пропонується, містить етап формування множини бінарних зрізів напівтонового поточного зображення, етап формування множини бінарних зрізів напівтонового еталонного зображення, етап встановлення відповідності бінарних зрізів еталона до бінарних зрізів поточного зображення, етап визначення місцерозташування кожного бінарного зрізу еталона на відповідному зрізі поточного зображення та етап аналізу отриманих результатів та визначення місцерозташування напівтонового еталонного зображення на напівтоновому поточному зображенні. Запропоновані рішення розглянуто на конкретному прикладі. Практична цінність запропанованого підходу полягає в тому, що складноструктуроване напівтонове зображення з великою кількістю рівнів яскравості можна привести до простих бінарних матриць, більша частина з яких просто виключається з процесу оброблення. При цьому залишається вибір варіанту методу визначення бінарного зрізу еталону на полі бінарного зрізу поточного зображення.
Додано/оновлено в НРАТ
2026-11-02