Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2199U000044, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Contribution of the grain-boundary and surface scattering of conductivity electrons to the size effect of tensosensibility Автор Дата публікації 01-01-1999 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/709 Видання Institute for Single Crystals Опис Одержано теоретичні співвідношення, які дозволяють оцінити вклад об`ємного, поверхневого і зернограничного розсіювання електронів провідності у величину коефіцієнту повздовжньої тензочутливості металевих плівок. Показано, що ці внески можна представити адитивно таким чином y = C1уol + С2ygbl + С3ydl, де С1-С3 - статистична вага окремих доданків. Одержані співвідношення були апробовані на прикладі тонких плівок Cr, Co, Ni і Cu. // Русск. версия: Получены теоретические соотношения, позволяющие оценить вклад объемного, поверхностного и зернограничного рассеивания электронов проводимости в величину коэффициента продольной тензочувствительности металлических пленок. Показано, что эти вклады можно представить аддитивно таким образом: y = C1y0l + C2ygbl + C3ydl, где С1—С3 - статистический вес отдельных слагаемых. Полученные соотношения апробированы на примере тонких пленок Cr, Со, Ni и Cu. Theoretical relations have been obtained allowing to estimate the contribution of volume, surface and grain boundary scattering electrons of conductivity to the longitudinal tensosensibility coefficient of metal films. These contributions can be additively presented as у = C1Y0l + C2Ygbl + C3ydl where C1-C3 are the statistical weights of individual components. The relationships derived have been proven taking Cr, Co, Ni and Cu thin films as examples. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/709 Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити