Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0212U004753, 0110U004656 , Науково-дослідна робота Назва роботи Створення методу та апаратури для рентгено-ультраакустистичної експресної багатопараметричної діагностики наносистем Назва етапу роботи Керівник роботи Оліх Ярослав Михайлович, Дата реєстрації 01-03-2012 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Розроблена експериментальна методика рентгено-ультразвукової інтегральної дифрактометрії у різних геометріях дифракції в тонких кристалах (приповерхневих шарах), яка враховує структурно-чутливий внесок дифузної складової дифракції та його залежність як від типу, характеристик дефектів, так і від параметрів ультразвукової хвилі. Опис продукції Розроблена експериментальна методика рентгено-ультразвукової інтегральної дифрактометрії у різних геометріях дифракції в тонких кристалах (приповерхневих шарах), яка враховує структурно чутливий внесок дифузної складової дифракції та його залежність як від типу, характеристик дефектів, так і від параметрів ультразвукової хвилі. Автори роботи Єфанов Олександр Миколайович Гудименко Олександр Йосипович Кладько Василь Петрович Кучук Андріан Володимирович МаксименкоЗоя Василівна Мачулін Володимир Федорович Проскуренко Наталія Миколаївна Сафрюк Надія Володимирівна Стадник Олександр Анатолійович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Створення методу та апаратури для рентгено-ультраакустистичної експресної багатопараметричної діагностики наносистем
Керівник: Оліх Ярослав Михайлович. Створення методу та апаратури для рентгено-ультраакустистичної експресної багатопараметричної діагностики наносистем. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0212U004753
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-22


Роздрукувати цю сторінку