Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0213U002298, 0110U004088 , Науково-дослідна робота Назва роботи Скануюча кріосистема для досліджень параметрів поверхні наноструктурованиих матеріалів і покриттів. Назва етапу роботи Керівник роботи Жарков Іван Павлович, Дата реєстрації 23-01-2013 Організація виконавець Інститут фізики НАН України Опис етапу Об"єкт розробки - Скануючa Кріостатна система (далі СКС) для контроля стану наноструктурованих поверхонь і плівкових покриттів неруйнівним способом- методом їх мікрохвильового зондування. Мета роботи -створення кріостатної системи для сканування і дослідження параметрів поверхонь наноструктурованих матеріалів і плівкових покриттів та виготовлення на підставі отриманих результатів експериментального зразка (ЕЗ) кріосистеми сканування (ЕЗКС). Задачами роботи було: розробка конструкторської документації на експериментальний зразок СКС, призначений для контроля стану наноструктурованих поверхонь і плівкових покриттів методом їх мікрохвильового зондування. "розробка функціональної та структурної схемСКС, "розробка опису роботи складових частин СКС і їх взаємодії в цілому. Отримані такі результати: І. Розроблена конструкторська документація і виготовлено експериментальний зразок скануючої кріостатної системи. Система забезпечує наступні характеристики: - Робочий діапазон температури мікрохвильового датчика- 79 К± 1К. - Тривалість роботи при 79 К± 1К без дозаправки кріоагентами не менше- 5 годин. - об'єм азотного бака заливного азотного кріостата (ЗАК)- 2,5 л; - мінімальний час роботи ЗАК без дозаливки - 5 годин; -Розмір сканованої горизонтальної площини,мм 300х300; -Мінімальний крок сканування, мм 0,0025; -Робочий хід по вертикалі, мм 15; -.Мінімальний крок переміщення по вертикалі,мм 0,005; -Мінімальна відстань до сканованогоо об''єкта,мм 0,1; - Максимальне переміщення по осі Х, мм 300; - Максимальне переміщення по осі У, мм 300; - Максимальне переміщення по осі ?, мм 36. Прилад не має аналогів у світі. Розроблений прилад є необхідним для використання в неруйнівній дефектоскопіїі поверхонь і матеріалів, що проводиться в Україні, Опис продукції Скануюча кріостатна система для неруйнівної мікрохвильової дефектоскопії. Система забезпечує наступні характеристики: - Робочий діапазон температури мікрохвильового датчика- 79 К± 1К. -Тривалість роботи при 79 К± 1К без дозаправки кріоагентами не менше- 5 годин. - об'єм азотного бака заливного азотного кріостата (ЗАК)- 2,5 л; - мінімальний час роботи ЗАК без дозаливки - 5 годин; -Розмір сканованої горизонтальної площини,мм 300х300; -Мінімальний крок сканування, мм 0,0025; -Робочий хід по вертикалі, мм 15; -.Мінімальний крок переміщення по вертикалі,мм 0,005; -Мінімальна відстань до сканованогоо об''єкта,мм 0,1; - Максимальне переміщення по осі Х, мм 300; - Максима Автори роботи Жарков Іван Павлович Маслов Валентин Олексійович Сафронов Віталій Вікторович Селіванов Олександр Вікторович Ходунов Володимир Олександрович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Жарков Іван Павлович. Скануюча кріосистема для досліджень параметрів поверхні наноструктурованиих матеріалів і покриттів.. (Етап: ). Інститут фізики НАН України. № 0213U002298
Знайдено документів: 1
Підписка
Повний текст наразі ще відсутній.
Повідомити вам про надходження повного тексту?
Повідомити вам про надходження повного тексту?
Оновлено: 2026-03-22
