Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0213U004618, 0113U005489 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розвиток нових методів для нанодіагностики тонкоплівкових шаруватих систем на основі структурно-чутливої рентгенівської спектроскопії з використанням синхротронного випромінювання Назва етапу роботи Керівник роботи Фодчук Ігор Михайлович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 19-12-2013 Організація виконавець Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича Опис етапу Розроблено методику визначення локальних деформацій у кристалах з картин дифракції зворотно відбитих електронів (картин Кікучі) з використанням методу гістограм та методу дискретного двомірного Фур'є перетворення. Визначена анізотропія в розподілі локальних деформацій на поверхні зразків алмазу, отриманих методом температурного градієнта в системі Fe-Al-C і методом нарощування в середовищі Mg-C + бор на поверхні монокристала алмазу статичного синтезу (Ni-Mn-C) Розроблено методики визначення компонент тензометра деформацій з багатохвильових дифрактограм Ренінгера. Проведені дослідження кількісної діагностики структурних перетворень дефектної системи і особливостей формування кривих дифракційного відбивання та ізодифузних мап інтенсивності, отриманих за допомогою багатоосьової багатокристальної дифрактометрії після високодозової імплантації іонів азоту в плівки залізо-ітрієвих гранатів. Опис продукції Методика полягає у тому, що з використанням методу гістограм та методу дискретного двомірного Фур'є перетворення для отриманих багато кристалічною дифрактометрією картин розсіяння Х-променів на кристалічних матеріалах стало можливим визначення локальних деформацій у кристалах з модифікованою поверхневою та приповерхневою структурою Автори роботи Борча Мар'яна Драгошівна Гуцуляк Іван Іванович Довганюк Володимир Васильович Кладько Василь Петрович Литвин Петро Мар'янович Ткач Василь Миколайович Федорцов Дмитро Георгійович Фодчук Ігор Михайлович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити