Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0217U000021, 0115U004262 , Науково-дослідна робота Назва роботи "Експериментальні та теоретичні дослідження електричних та надвисокочастотних властивостей наноструктур та приладів наноелектроніки, що створені на основі широкощілинних напівпровідникових матеріалів" Назва етапу роботи Керівник роботи Бєляєв Олександр Євгенович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 05-01-2017 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Досліджено електричні струми і шуми в планарних GaN нанодротах (НД). Результати, отримані при низьких напругах дозволили оцінити ефекти виснаження в НД. При високих напругах спостерігався ефект струмів, обмежених просторовим зарядом (SCLC ефект). Прояв SCLC ефекту чітко корелює з шириною НД. Для вузьких НД спостерігається розвинутий SCLC режим. Отримані результати добре узгоджуються з шумовими ефектами, що були досліджені в НД. При низьких напругах рівень нормалізованого шуму зростає із зменшенням ширини НД. В SCLC режимі спостерігаються суттєве зростання інтенсивності нормалізованого шуму (до чотирьох порядків по величині), а також зміни у формі шумових спектрів з тенденцією до нахилу -3/2. Зроблено висновок, що спостережені особливості електричних струмів і шумів в НД мають загальний характер і повинні бути врахованими при розробці приладів на основі НД. Опис продукції Експериментальні та теоретичні дослідження базових характеристик спектрів електронів, дірок та фононів в наноструктурах на основі широкощілинних матеріалів. Досліджено електричні струми і шуми в планарних GaN нанодротах (НД). Результати, отримані при низьких напругах дозволили оцінити ефекти виснаження в НД. При високих напругах спостерігався ефект струмів, обмежених просторовим зарядом (SCLC ефект). Прояв SCLC ефекту чітко корелює з шириною НД. Для вузьких НД спостерігається розвинутий SCLC режим. Отримані результати добре узгоджуються з шумовими ефектами, що були досліджені в НД. При низьких напругах рівень нормалізованого шуму зростає із зменшенням ширини НД. В SCLC режимі спостерігаються суттєве зростання інтенсивності нормалізованого шуму (до чотирьох порядків по величині), а також зміни у формі шумових спектрів з тенденцією до нахилу -3/2. Зроблено висновок, що спостережені особливості електричних струмів і шумів в НД мають загальний характер і повинні бути врахованими при розробці приладів на ос Автори роботи Алейніков Андрій Борисович Бєляєв Олександр Євгенович Коротєєв Вадим В'ячеславович Кочелап Вячеслав Олександрович Наумов Андрій Вадимович Райчева Валентина Григорівна Сингаївська Галина Іванівна Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Бєляєв Олександр Євгенович. "Експериментальні та теоретичні дослідження електричних та надвисокочастотних властивостей наноструктур та приладів наноелектроніки, що створені на основі широкощілинних напівпровідникових матеріалів". (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0217U000021
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-27