Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0222U001228, 0121U110102 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розвиток новітніх фізико-технологічних засад створення багатошарових багатокомпонентних нітридних або карбонітридних наноструктурних покриттів та вивчення взаємодії з різними матеріалами. Дослідження процесів утворення комплексних поверхневих шарів, що володіють підвищеними характеристиками, що містять Cr, Ti, Zr, Hf, Та, Si, B, C, Mo, за допомогою вакуумного активованого дифузійного насичення і газофазного осадження (CVD) на сталях, тугоплавких металах і вуглецевих матеріалах для використання в космічній техніці, авіаційній та атомній промисловості, машинобудуванні. Назва етапу роботи Керівник роботи Руденький Сергій Георгійович, Доктор технічних наукСтолбовий В'ячеслав Олександрович, Дата реєстрації 25-01-2022 Організація виконавець Національний науковий центр "Харківський фізико-технічний інститут" Національної академії наук України Опис етапу  Метою досліджень є розробка захисних покриттів для забезпечення можливості функціонування виробів при підвищених температурах і впливі руйнуючих зусиль. Етап 1 - розробка процесів формування багатошарових нітридних або карбонітридних покриттів з наношарами вольфраму та дослідження структурних перетворень, властивостей і поводження таких покриттів при різних видах фізикомеханічних обробок. Об’єктом досліджень є вакуумно-дугові багатошарові покриття WN/MeN (Me = Zr, Cr, Mo, Nb). Фазовий аналіз покриттів проводили за допомогою рентгенівської дифракції Брегга-Брентано (XRD, рентгенівський дифрактометр Panalytical Empyrean) з випромінюванням Cu-Kα (λ = 1,5406 Å). Для вимірювання залишкових напружень був використаний метод 2θ-Ω в конфігурації падіння з випромінюванням Co-Kα (λ = 1,78901 Å) при U = 40 кВ та I = 30 мА. Морфологію та перерізи багатошарових покриттів WN/MeN (Me = Cr, Zr, Mo, Nb) вивчали за допомогою скануючого електронного мікроскопа з високою роздільною здатністю (FE-SEM) JEOL JSM 7600F. Загальну товщину багатошарових покриттів вимірювали за допомогою калотесту (Anton Paar Compact CAT2c Calotester). Рельєф та шорсткість поверхні визначали за допомогою Zeiss LSM 700 відповідно до стандарту ISO 25178. Кристалографічну характеристику багатошарового покриття WN/NbN визначали за допомогою ТЕМ у режимі яскравого поля (BF), просвічуючої електронної мікроскопії високої роздільної здатності (HRTEM) у режимі висококутового кільцевого зображення темного поля (HAADF). Для нанорозмірних багатошарових покриттів WN/MeN (Me = Cr, Zr, Mo, Nb), нанесених вакуумно-дуговим методом, були проведені дослідження мікроструктури, механічних властивостей, характеристик тертя та зносостійкості. Опис продукції Автори роботи Cерченко Марина Павлівна Cоловіченко Юрій Михайлович Ільченко Нора Сосівна Андреєв Анатолій Опанасович Баранков Михайло Якович Бредіхін Михайло Юрійович Гетман Валентина Федорівна Доломанов Андрій Валентинович Змій Віктор Іванович Карцев Микола Федорович Коваленко Володимир Іванович Ковтеба Дмитро Володимирович Коновлов Ігор Іванович Корнєєв Олександр Олександрович Кривошапка Руслан Васильович Кунченко Олексій Вікторович Кунченко Юрій Вікторович Литвяк Аліна Костянтинівна Лукирський Юрій Валентинович Ляшенко Ігор Андрійович Маринін Володимир Григорович Мартиненко Людмила Іванівна Мирошниченко Костянтин Вікторович Павленко Володимир Іванович Рак Василь Ілларіонович Рижова Тетяна Петрівна Руденький Сергій Георгійович Сердюк Ірина Віталіївна Столбовий В'ячеслав Олександрович Черноіванов Євгеній Володимирович Шарапова Тетяна Іванівна Додано в НРАТ 2022-03-09 Закрити