Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0309U003886, 0108U003868 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення нового комплексного підходу до наноструктурної характеризації напівпровідникових склоподібних матеріалів для оптоелектроніки Назва етапу роботи Розроблення методології наноструктурної характеризації напівпровідникових склоподібних матеріалів оптоелектроніки дифракційними методами Керівник роботи Кавецький Тарас Степанович, Кандидат фізико-математичних наук Дата реєстрації 28-12-2009 Організація виконавець Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка Опис етапу Проведено історичний огляд по проблемі наноструктурної характеризації напівпровідникових склоподібних матеріалів. Відображено еволюцію атомного та атомно-дефіцитного нанорівнів в напівпровідникових склоподібних матеріалах. Розроблено методологію наноструктурної характеризації напівпровідникових склоподібних матеріалів дифракційними методами (техніки традиційної рентгенівської дифракції в області першого різкого дифракційного піку, високоенергетичної синхротронної рентгенівської дифракції та спектроскопії тонкої структури рентгенівського поглинання). Здійснено радіаційну обробку зразків склоподібних напівпровідників гама-квантами Co60 в умовах стаціонарного радіаційного поля з поглинутою дозою більше ніж 1 МГр. Проведено дослідження напівпровідникових склоподібних матеріалів оптоелектроніки дифракційними методами за розробленою методологією. Опис продукції Автори роботи Зайцев Олександр Вадимович Кавецький Орест Степанович Кавецький Тарас Степанович Лабовка Діана Василівна Паньків Ігор Степанович Паньків Людмила Іванівна Федиців Галина Володимирівна Цмоць Володимир Михайлович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити