Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0309U003887, 0108U003868 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення нового комплексного підходу до наноструктурної характеризації напівпровідникових склоподібних матеріалів для оптоелектроніки Назва етапу роботи Розроблення методології наноструктурної характеризації напівпровідникових склоподібних матеріалів оптоелектроніки методом позитронної анігіляції Керівник роботи Кавецький Тарас Степанович, Кандидат фізико-математичних наук Дата реєстрації 28-12-2009 Організація виконавець Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка Опис етапу Відображено еволюцію нанопустот в напівпровідникових склоподібних матеріалах за параметрами позитронної анігіляції (або спектроскопії часу життя позитронів). Розроблено методологію наноструктурної характеризації напівпровідникових склоподібних матеріалів методом позитронної анігіляції. Проведено дослідження напівпровідникових склоподібних матеріалів оптоелектроніки методом позитронної анігіляції за розробленою методологією. Встановлено, що за розробленою методологією наноструктурної характеризації напівпровідникових склоподібних матеріалів методом позитронної анігіляції можна вивчати топологію нанопустот в матриці скла та оцінити їх зміну, викликану радіаційною обробкою матеріалу. Знайдено добру кореляцію між об'ємами нанопустот, розрахованими за даними часу життя позитронів (компонента tau2) та параметрами першого різкого дифракційного піку (положення Q1) для досліджуваних стекол. Опис продукції Автори роботи Зайцев Олександр Вадимович Кавецький Орест Степанович Кавецький Тарас Степанович Лабовка Діана Василівна Паньків Ігор Степанович Паньків Людмила Іванівна Федиців Галина Володимирівна Цмоць Володимир Михайлович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити