Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0497U000789, Кандидатська дисертація На здобуття Дата захисту 18-04-1997 Статус Запланована Назва роботи Перестройка структурных дефектов в монокристаллах и эпитаксиальных структурах на основе GаАs под внешним воздействиеями, выявленная рентгенодифракционными методами Здобувач Литвин Петр Марьянович, Керівник Прокопенко И.В. Керівник Крыштаб Т.Г. Опонент Ширшов Ю.М. Опонент Кисловский Е.Н. Опис Объект исследования: Монокристаллы и эпитаксиальные системы (ЕС) на основе GaAs. Цель исследования: Изучение механизмов формирования ЕС при разных методах выращивания и перестройки дефектной структуры по внешними воздействиями, путем развития и усовершенствования методов исследования. Методы исследования и аппаратура: Рентгенодифракционные методы, магнетрон, кобальтовая пушка6 ультразвуковой генератор. Теоретические результаты и новизна: Исследованы механизмы формирования структуры ЕС, полученных различными методами, развиты физические представления о перестройке дефектной структуры монокристаллов и ЕС под внешними воздействиями. Практические результаты и новизна: Развиты и усовершенствованы методы исследования; установлена оптимальная концентрация иттербия в расплаве при выращивании ЖФЭ, показана возможность применения мощного СВЧ поля для отжига структурных дефектов и уменьшения уровня напряжений в материале. Предмет и степень внедрения: Оптимизированы Условия ЖФЭ при использовании иттербия; быстропротекающий СВЧ отжиг; методы диагностики. Эффективность внедрения: Повышение эффективности и информативности неразрушающей структурной диагностики полупроводниковых материалов, повышение структурной однородности и радиационной стойкости ЕС, полученных ЖФЭ. Сфера (область) использования: Научноисследовательские организации и предприятия, работающие в области полупроводниковой электроники. Дата реєстрації 1997-04-18 Додано в НРАТ 2020-05-17 Закрити
Дисертація кандидатська
Литвин Петр Марьянович. Перестройка структурных дефектов в монокристаллах и эпитаксиальных структурах на основе GаАs под внешним воздействиеями, выявленная рентгенодифракционными методами : : спец.. 01.04.07 - Фізика твердого тіла : дата захисту 1997-04-18; Статус: Захищена; Институт физики полупроводников НАН Украины. – , 0497U000789.
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-28