Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0511U000061, Докторська дисертація На здобуття д.ф.-м.н. Дата захисту 27-11-2010 Статус Запланована Назва роботи Моделювання Х-променевих топографічних зображень дефектів у реальних кристалах Si Здобувач Новіков Сергій Миколайович, Керівник Фодчук Ігор Михайлович Опонент Кладько Василь Петрович Опонент Кисловський Євген Миколайович Опонент Венгренович Роман Дмитрович Опис Встановлено механізми і закономірності формування дифракційних зображень окремих дефектів у кремнію (мікродефекти, дислокації, дислокаційні петлі та бар'єри Ломера-Котрела) та їх комплексів на секційних і проекційних топограмах при дії зовнішніх чинників (ультразвукових деформацій, еквідистантного і експоненційного згину атомних площин та дії зосереджених сил). Встановлено специфічні ефекти каналювання і повного внутрішнього відбивання Х-хвиль у випадку сторчкового положення крайових дислокацій в палатці Бормана. Виявлено особливості формування товщинних осциляцій інтенсивності в сильно деформованих областях кристалу. Дата реєстрації 2010-11-27 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити