Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0513U000005, Докторська дисертація На здобуття д.ф.-м.н. Дата захисту 25-12-2012 Статус Запланована Назва роботи Основи динамічної багатопараметричної дифрактометрії монокристалів з дефектами Здобувач Лень Євген Георгійович, Керівник Молодкін Вадим Борисович Опонент Раранський Микола Дмитрович Опонент Іванов Михайло Олексійович Опонент Білоколос Євген Дмитрович Опис Відкрито явище унікальної структурної чутливості залежностей картини багатократного розсіяння від умов дифракції випромінень в монокристалах з дефектами. Встановлено, що природа цього явища полягає у виникненні взаємозв'язку між залежностями динамічної картини розсіяння від характеристик дефектів і від умов дифракції за рахунок нелінійних ефектів взаємного впливу процесів багатократного розсіяння на періодичній і флуктуаційній частинах кристалічного потенціалу. Побудовано узагальнені теоретичні моделі динамічного розсіяння випромінень у кристалах з дефектами довільних розмірів для різних умов дифракції та методів вимірювання. Встановлено і кількісно описано механізми, що обумовлюють відкрите явище та забезпечують радикальне (на кілька порядків величини) підвищення чутливості до характеристик дефектів динамічної картини розсіяння в порівнянні з кінематичною. Розроблено та апробовано принципово нові кількісні методи динамічної багатопараметричної дифрактометрії дефектів декількох типів в монокристалах, які базуються на спільній обробці даних дифракційних експериментів, одержаних за різних умов динамічної дифракції та різними експериментальними методами, і забезпечують підвищення як чутливості, так і однозначності та інформативності комбінованої діагностики складних дефектних структур в монокристалічних виробах сучасних технологій. Дата реєстрації 2012-12-25 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити