Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2112U001414, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Thesis Назва роботи Structural and optical-properties of CdTe and CdMnTe films Автор Дата публікації 01-01-2012 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30130 Видання Brookhaven National Laboratory Опис We undertook a detailed investigation of the structural- and optical-properties of CdTe- and Cd1-xMnxTe-semiconductor films deposited by close-spaced vacuum sublimation using thermal evaporation on non-oriented substrates. From our structural- and phase-analysis of the layers, we obtained information on their structure, deformations, grain size, and content of dislocations for films deposited at different substrate temperatures. We considered that despite the presence of defects in the crystals, the films offer promise for fabrication into x-ray detectors. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30130 Додано в НРАТ 2025-05-12 Закрити