Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0214U008827, 0108U002445 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення і створення діагностичного комплексу для тестування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників. Назва етапу роботи Керівник роботи Конакова Раїса Василівна, Дата реєстрації 07-11-2014 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Науково-технічний звіт складається зі вступу, однієї частини та висновків. В звіті 23 сторінки машинописного тексту, з них 16 сторінок основного тексту, 10 ілюстрацій, 1 таблиця та список посилань з 21 найменування. Об'єктом дослідження проведеної роботи є методики діагностування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників та теплових опорів оптоелектронних виробів. Метою роботи є розроблення та створення конструктивної частини діагностичного комплексу для тестування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників - перетворювача напруга-струм для 12-бітного ЦАП. В результаті виконання роботи розроблені технічні вимоги до формувача імпульсів діагностичного комплексу для тестування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників. Розроблено і апробовано в експерименті варіант формувача імпульсів. Ключові слова: діод Ганна, лавино-пролітний діод, p-i-n діод Опис продукції Проведено аналіз потреб у точності та ширині діапазону тестових імпульсів для тестування та діагностики мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників. Розроблені технічні вимоги до формувача імпульсів діагностичного комплексу для тестування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників. Розроблено і апробовано в експерименті варіант формувача імпульсів діагностичного комплексу для тестування мікрохвильових діодів на основі широкозонних напівпровідників. Автори роботи Конакова Р.В. Кудрик Я.Я. Шеремет В.М. Шинкаренко В.В. Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити