Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0216U001745, 0115U005035 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення і створення високороздільних рентгенівських методів і обладнання для сертифікації нанорозмірних матеріалів Назва етапу роботи Керівник роботи Кладько Василь Петрович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 31-03-2016 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Встановлено вплив внутнішніх механічних напруг на дифузійн процеси. Для одержання інформації про тип, розміри та концентрацію структурних дефектів використовувалися методики вимірювання напівширини кривих дифракційного відбиття (КДВ) і метод дифузного розсіяння рентгенівських променів. В ході роботи була реалізована методика контролю деформаційного стану матеріалів із складною кристалічною граткою в температурному інтервалі (70-1000К). Опис продукції Методика контролю геометричних та структурних параметрів нанорозмірних матеріалів в широкому температурному інтервалі (70-1000К). Автори роботи Єфанов Олександр Миколайович Гудименко Олександр Йосипович Кривий Сергій Борисович Максименко Зоя Василівна Поліщук Юлія Олегівна Сафрюк Надія Володимирівна Слободян Микола Васильович Стадник Олександр Анатолійович Станчу Григорій Вікторович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Кладько Василь Петрович. Розроблення і створення високороздільних рентгенівських методів і обладнання для сертифікації нанорозмірних матеріалів. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0216U001745
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-19