Реєстраційний номер
0219U100523,
0117U006157
, Науково-дослідна робота
Назва роботи
Створення основ фазоваріаційної одновісьової дифрактометрії багатопараметричних систем
Назва етапу роботи
Керівник роботи
Лізунов Вячеслав Вячеславович, Доктор фізико-математичних наук
Дата реєстрації
18-02-2019
Організація виконавець
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Опис етапу
Створено напівфеноменологічну спрощену модель та метод діагностики на фазоваріаційних принципах з використанням деформаційних залежностей (ДЗ) повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції (ПІІДД) в кристалах з дефектами без додаткових вимірів на еталонних зразках.
Показано, що використання ДЗ ПІІДД, отриманої на одному Лауе-рефлексі рентгенівського випромінення в наближенні «тонкого» кристала, дозволяє в багатьох випадках отримати такий же об’єм інформації, як при використанні товщинних залежностей ПІІДД, отриманих з використанням декількох рефлексів у наближеннях «тонкого» і «товстого» кристалів. Це досягається за рахунок використання фазоваріаційного підходу, який полягає в даному випадку в цілеспрямованому варіюванні умов дифракції і областей макродеформації.
Проведено аналіз діагностичних можливостей методу ДЗ ПІІДД для монокристалів з мікродефектами у випадку, коли дифузна складова ПІІДД може бути співмірною з її когерентною складовою або значно перевищувати її. Показано, що в цьому випадку ДЗ ПІІДД є аномально чутливими і інформативними при їх використанні для визначення характеристик мікродефектів в багатопараметричних монокристалічних системах. Продемонстровано, що створена спрощена дисперсійна фазоваріаційна евристична модель ДЗ ПІІДД дозволяє проведення багатопараметричної діагностики хаотично розподілених в кристалі мікродефектів.
Опис продукції
Метод дозволяє визначати характеристики мікродефектів декількох типів, одночасно присутніх в монокристалах, та може бути використаний в галузях наукового приладобудування, наноіндустрії та мікроелектроніки
Автори роботи
Додано/оновлено в НРАТ
2020-04-02
