Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0220U002028, 0118U002048 , Науково-дослідна робота Назва роботи Моделювання структури, створення та дослідження властивостей монохроматорів для нових джерел рентгенівського випромінювання Назва етапу роботи Керівник роботи Зубарєв Євгеній Миколайович, Дата реєстрації 10-02-2020 Організація виконавець Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут" Опис етапу Об'єкт дослідження: Диспергуючі елементи з надвисоким рівнем рентгенівсь-кого коефіцієнту відбиття для формування пучків фотонів у діапазоні енергій 0,2-50 кеВ. Мета роботи: кероване створення нових диспергуючих елементів, розробка на їх основі beam line для нових джерел рентгенівського випромінювання. Методи дослідження: Теоретичне дослідження - методи якобійових матриць, метод Пересади-Сиркіна, мультипольні розклади, обчислення електростатичних мультиполів конкретних фізичних систем. Експериментальне дослідження - рентгенівська флуоресцентна спектрометрія, рентгенівська дифрактометрія, рентгенівська рефлектометрія, електронна мікро-скопія. Вакуумну установку для отримання монохроматорів на основі товстих плівок фулеріту оснащено коміркою квазізамкнутого об'єму з системою автоматичного нагріву, що використовує шість незалежних пропорційно-інтегрально-диференціючих регуляторів з термокомпенсацією холодного спаю на базі регу-лятора температури МікРА 604 Експериментально встановлено, що шорсткість шарів фулеріту на поверхні слюди (111) залежить не тільки від швидкості нанесення, а і від стабільності температурі по площині підкладки. При недостатній стабільності температури гладкі шари фулеріту з'являються лише в центральній зоні підкладки, а на периферії ростуть шари підвищеної шорсткості (шорсткість на рівні декілька мік-рометрів). Експерименти дозволили встановити, що отримання дзеркальної гла-дкості шарів по всій площині підкладки потребує стабілізаціі температури на рі-вні ±2С при швидкості осадження не більше 5-7мкм/год. Структурну доскональність шарів вивчали шляхом вимірювань напівширини кривих гойдання при площі опромінювання не менше 10мм х 10мм. Експериментально встановлено , що гладкість поверхонь шарів ще не забезпечує їх структурну досконалість. В деяких випадках на ділянках поверхні з незначної шорсткістю менш ніж 0,1 мкм структурна досконалість була поганою, тобто напівширина кривої гойдання переви-щувала 1-3 град. Взагалі було встановлено, що отримання заданого рівня струк-турної досконалості і шорсткості потребують самостійного впровадження екс-периментальних режимів. На рентгенівському дифрактометрі в режимі тета-2тета сканування проведені кількісні вимірювання інтегральної інтенсивності семи порядків відбитків (hhh) епітаксіальних шарів фулеріту. Визначено експериментальну величину атомного форм-фактору Fhhh відбитків (hhh) для молекули фулерену. Порівняння експериментальних значень атомного форм-фактору з розрахунками Fhhh в моделі ротації дозволило кількісно визначити фундаменталь-ний параметр-діаметр молекули фулерена 7,04А. Розвинуто новий підхід до розгляду дефектів на графенах та вуглецевих нано-трубок (ВНТ): адатоми, острівці, нанокристали та інтеркаланти як диполі, що взаємодіють. Функціоналізація (адсорбція) графенів і ВНТ досліджується у випадку перенесення заряду між функціоналізуючою молекулою і субстратом (графени, ВНТ). Опис продукції Автори роботи Батурін Олексій Анатолійович Борисова Светлана Серофимівна Зубарєв Євгеній Миколайович Ликах Віктор Олександрович Мамон Валентин Васильович Михайлов Ігор Федорович Михайлов Антон Ігорович Севрюкова Вікторія Анатоліївна Сиркін Євген Соломонович Суровіцкий Сергій Вікторович Фоміна Лариса Петрівна Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити