Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0225U002813, (0120U102191) , Науково-дослідна робота Назва роботи Дифракція в області аномальної дисперсії Х-променів: Нові можливості в діагностиці наноструктур Назва етапу роботи Дифракція в області аномальної дисперсії Х-променів: Нові можливості в діагностиці наноструктур Керівник роботи Кладько Василь Петрович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 07-04-2025 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова Національної академії наук України Опис роботи Розвиток дифракційних методів діагностики наноматеріалів в широкому діапазоні зміни їх розмірностей та кристалічної структури, дослідження можливостей зміни електрофізичних параметрів шляхом керованого впливу на деформаційний стан наносистем. Опис етапу Досліджено вплив ультразвукових коливань на транспортні характеристики гетероструктур AlGaN/GaN. Виявлено, що обробка зразка ультразвуковими коливаннями призводить до акусто-провідності (PAC), яка є значною аж до кімнатних температур. Показано, що PAC перехідні характеристики корелюють з ефектом стійкої фотопровідності (PPC) викликаної домішками глибоких рівнів. Показано, що метод динамічної деформації буде корисним та інформативним засобом для визначення транспортних (2DEG) в гетероструктурах AlGaN/GaN. Розвинута і доповнена методична база структурних досліджень на основі використання сучасного комплексу обладнання для високороздільної Х-дифрактометричної і рефлектометричної діагностики. Опис продукції Автори роботи Гудименко Олександр Йосипович Любченко Олексій Ігорович Максименко Зоя Василівна Поліщук Юлія Олегівна Сафрюк Надія Володимирівна Слободян Микола Васильович Додано в НРАТ 2025-04-07 Закрити